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射频测试工艺通常是手机等无线通讯类设备产线中最为复杂、影响大的流程，通常也是产线的瓶颈。射频测试站通常由测试仪表、屏蔽室、测试软件等几部分构成，通常又可分为校准测试、综合测试、天线测试等等几类。

　　由于产能的要求，通常射频测试工艺由多个相同的测试站并行运行。某个或某些测试工位的通过率偏低;产出降低就会导致产线瓶颈、生产成本剧增，而究其原因，大致可分为： 产品设计或物料原因、测试的问题(误测问题)、射频干扰等环境因素、测试的不确定问题。

　　电磁干扰/EMI是整个电子领域目前必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如：手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱/RF Shield Box来改善测试环境的。